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发布时间:2020-05-06 21:21:11
在 T-coil 的宽度应用中,除了上面对设计优化的考虑外,一些 T-coil 自身问题也需要在
设计中关注并解决。
(1) 片上 T-coil 往往占据顶层金属大量面积,而在顶层电源布线以及非常紧张了,
所以大面积的 T-coil 对顶层设计非常不利;同时,大面积的 T-coil 不仅影响面积
使用率,而且会产生大量功耗。如果不解决大面积 T-coil 问题,想利用 T-coil 设
计多个高速 IO 口的想法将无法实现。
(2) T-coil 也存在可靠性问题。对于 ESD 结构中的 T-coil 也涉及到 ESD 电流路径, Tcoil 自身的串联电阻会引起较低的 ESD 抵抗力,高功耗会*** T-coil(尤其在 Tcoil 的一些突变拐角处,很容易受到 ESD ***)。另外,如果 IO 电路在常规模式
是大电流情况时, T-coil 可能会由于电迁移导致***。为了提升 T-coil 可靠性,
需要设计较宽的金属走线,这又使得 T-coil 面积增加了。
下面几个例子,讨论如何提升 T-coil 可靠性,同时又减小面积:
1) 封装层进行器件综合时,由于金属层很厚,高频趋肤效应导致金属电流边沿分布。Peakview提供多电流层剖分(multi-sheet current),设计中可根据金属厚度,工作频率进行金属电流多层剖分,提升仿精度;
2) 支持多文件格式(如:Pcircuit file、ODB 、GDSII file)的导入、导出,方便不同格式来源的封装版图导入;
3) 提供版图合并功能,软件导入芯片版图和封装版图后,可完成多个***版图按需合并,对合并后的版图进行联合仿。在合并时,可以对版图进行旋转、坐标偏移设置,方便设计人员按照实际电路进行调整。
随着工艺制程的不断发展,越来越***的工艺节点上,PDK中包含的P-cell越来越少,需要用户自己定制device,这对绝大多数的用户来讲,不仅局限于项目周期、资金投入,也局限于知识积累,是一件非常困难的工作。PeakView了解并理解客户的需要,所提供的EMD功能模块,可以满足客户定制器件的需求;
在PeakView中,用户根据自己的设计需要,调用PeakView内建的Pcircuit库,选择适合的器件类型,再确定器件版图参数,EMD模块即可生成用户所需的各种模型,包括:Symbol,Layout,Hspice model,spectre model,nport model以及RLCK model。满足设计者在不同设计阶段的使用。
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